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信息来源于：本站 发布于：2025-07-01
在电压击穿试验中，“闪络”（表面放电）和“击穿”（介质击穿）是两种不同的失效模式，其数据有效性判断需结合试验条件、试样状态及放电特征进行综合分析。以下是系统性的判断方法及解决方案：
| 特征 | 闪络（Flashover） | 击穿（Breakdown） |
|---|---|---|
| 发生位置 | 试样表面或电极边缘 | 试样内部（绝缘介质） |
| 物理过程 | 气体沿面放电或污染导致的表面电离 | 介质内部电场超过耐受强度，形成导电通道 |
| 痕迹特征 | 表面碳化、树枝状放电痕迹 | 内部穿孔、熔融或焦耳热破坏 |
| 数据有效性 | 通常无效（非材料本征性能） | 有效（反映材料介电强度） |
环境控制：确认试验环境湿度、污染物（如灰尘、油污）是否符合标准（如IEC 60243、ASTM D149）。
试样状态：检查试样表面是否清洁、无划痕或缺陷，电极是否与试样紧密接触（避免气隙）。
闪络典型现象：
放电沿试样表面或电极边缘发生，伴随明亮火花。
击穿电压值离散性大，且重复性差。
击穿典型现象：
放电伴随介质内部破坏声（如“啪”声），击穿点位于试样内部。
解剖试样：切开试样观察破坏路径：
表面碳化（闪络）vs. 内部贯穿性通道（击穿）。
显微镜/红外成像：辅助分析局部过热或化学结构变化。
重复性验证：同一试样多次试验，若击穿电压波动大（如±30%以上），可能为闪络干扰。
对照组试验：使用已知性能的标准试样对比，验证设备及环境可靠性。
改进电极设计：
采用球形电极或屏蔽电极（如Rogowski电极），减少边缘电场集中。
使用硅油或变压器油浸没试样（抑制表面放电）。
试样处理：
清洁表面（酒精擦拭）、抛光边缘，或涂覆防晕漆（如半导体涂层）。
试验参数优化：
选择慢速升压模式（如2 kV/s），避免瞬时过电压引发闪络。
有效数据：击穿发生在介质内部，且符合统计规律（如韦伯分布）。
无效数据：闪络主导时，需剔除并注明原因，重新试验。
IEC 60243-1：明确要求区分闪络与击穿，建议采用油浸或惰性气体环境。
ASTM D149：规定试样制备和电极配置以减少表面放电影响。
通过上述方法，可显著提高电压击穿试验数据的准确性和可靠性。若问题持续，建议联系设备供应商（如北京冠测精密）进行设备校准或方案优化。
